高频探针的测量通常是与被测器件 (DUT) 串联进行的。因此,测试解决方案是信号路径的一部分。为确保最小回波损耗,测试解决方案必须具有与被测器件相同的阻抗系统(例如 50 Ω)。然而,如果要在闭合的信号路径中执行测量,则其必须确保信号路径不会因为测试解决方案而受到影响。如果在这种情况下通过标准测试解决方案进行测量,将会损耗 50% 的能量。其原因在于,测试解决方案与测量对象并联。为避免这种情况,INGUN 开发了一种专门的测试探针,可以实现高阻抗的信号拾取,从而确保信号路径不受影响。
一:带有集成补偿元件的高频探针HFS-840 007 051 A 4807 P1-AS(如图一)和HFS-440 007 051 A 4807 P5-AS 4M(如图二)
(图一)
(图二)
二:为了指定此测量方案,将执行三端口测量,端口 1 和端口 2 与测量对象相连,端口 3 与高频探针相连(如图三)
(图三)
三:如下测量所示,试样受探针的影响很小。损失的功率降低了 20 dB。这相当于电压降低了 1/10,例如用示波器测量时。通过短接地,几乎可以避免寄生耦合。该测试解决方案特别适用于用示波器自动测试组件。(如图四)
(图四)
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