INGUN高频探针的规格

一：同轴（模拟）高频探针规格 

模拟信号测量的测试解决方案通常在频率域内加以指定。所谓的 S 参数是通过矢量网络分析仪(VNA) 测量所得的。INGUN 为此使用了 20 GHz 2 端口 VNA。由于使用了基准面带 PC3.5 或 SMA 接口的 VNA 测试电缆，所以出于配接测试解决方案的原因需使用各种测量及校准适配器。由于在校准之后才向测量路径中添加这些适配器，故其必然会对测量结果造成影响。故此，在指定测试解决方案的时候，必须要考虑适配器的影响。为了修正衰减和相移，需使用所谓的端口扩展功能。同样，INGUN 还使用了其自主开发的 UOSL校准工具包，并和“去嵌入功能”相结合。各 S 参数示意图很容易便可以通过所生成的 s2p 文件（Touchstone 格式）推导得出。 

二：数字数据传输用测试探针规格

INGUN 拥有广泛丰富的数字高频探针产品组合。通过 S 参数，可以完整说明典型的模拟测试方法。相比之下，数字测试解决方案还有其他标准。这些取决于所使用的传输标准。例如：为了能够对为 USB 3.0 信号传输而设计的测试解决方案进行规范化，测试规格要求还需要引入差分阻抗和插入损耗规范、运行时间差异、串扰表现等等。然而，规范化过程中最重要的标准之一就是整个信号路径的信号完整性，其显示在所谓的眼图中。将所得眼图与通过传输标准所得的眼图波罩进行匹配，这样便可以显示传输路径是否符合电气性能方面的最低要求。 

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