INGUN 的产品组合包括手动测试治具 (MA)、气动测试治具 (PAZ/PA)、真空测试治具 (VA)、高频测试治具 (HF)、在线替换套件 (WS) 以及各种不同的扩展配件。
所有测试治具均采用模块化设计构造,且工作原理类似,都具有探针支承板、压板和压紧装置。不同之处主要在于对电子组件进行触探时平行触探行程的实施方式。
测试冶具分为替换套件式测试冶具和单件测试冶具。替换套件式测试冶具的优势在于,只需同一基本设备即可通过不同的替换套件进行测试。
测试冶具由外壳 (P/FGH) 和驱动单元 (ATE) 组成,替换套件由压紧装置 (NDH) 和探针支承单元 (KTE) 组成。
INGUN 测试治具供货时既可配备用于所有常见测试系统的接口,也可在不配备接口的情况下提供给用户。取决于所用测试系统,测试系统接口位于外壳底部或后部。所有测试治具均可按标准测试治具套件交付给客户,并随后由客户自行进行个性化扩展。
INGUN 拥有各种类型的测试治具套件和在线替换套件。其采用模块化设计构造,因此能够通过标准化治具解决方案完成几乎所有测试任务。
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