测试探针由寿命周期测试和在INGUN进行的全自动计算机控制长期测试确定。这里确定了重要参数的行为,如耐磨性、负载变化极、电气接触电阻、额定电流、容量以及测试探针寿命期间弹簧力的特性。
测试探针的使用寿命和更换时间建议在很大程度上取决于以下因素:
应用程序的类型
要联系的材料——OSP、AuNi、HAL等
环境条件(温度、污染、湿度、侧负荷)
使用的测试夹具、测试系统以及许多其他参数
此处给出的使用寿命是在实验室条件下使用以下测试条件确定的:
测试探针垂直安装,没有侧向力
使用合适的插座和推荐的工作行程,对测试探针进行测试并进行气动移动。
在干净的实验室环境中,在室温(25°C)下进行测试,柱塞头部无油、污染或其他沉积物。
柱塞头上没有被测装置的沉积物或残留物
接触和脱离时,测试探针在没有任何电压和电流的情况下运行(针头没有烧伤或发黑)。
实际使用寿命取决于各种参数,尤其是单个应用,并且可能与确定的实验室测试结果有很大差异,INGUN不保证指定的负载循环。必须始终区分电气寿命和机械寿命,测试探针的机械寿命通常比电气寿命长得多。由于柱塞头部接触面上的沉积物,被测装置的接触电阻可能会急剧增加,从而导致测量结果失真。也可能出现所谓的“伪错误”。
在无铅测试点上,测试探针电寿命的典型值(例如带有标准弹簧力的GKS-100)在30000到50000次接触行程之间。为了延长测试探针的电气寿命,INGUN建议定期维修和清洁测试探针、测试夹具和可互换套件或在线系统。INGUN建议使用清洁辅助工具,如刷子和清洁垫,以及定期使用吸力清洁固定装置和在线系统。
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