INGUN进行电路测试 (ICT) 的使用,需对一个组件的所有零部件进行测量。期间可以识别有缺陷的部件,并进行相应的更换。功能测试 (FCT) 检查某个组件是否达到规定的功能。根据以后的使用领域,对环境进行模拟,并检查组件的电气性能。
为完成搭接任务,提供了测试探针的各种系列。其区别在于安装高度、光栅尺寸(探针到探针可能的距离)、针头形状和连接类型,请参见以下图示。电气连接通常是通过焊接槽、绕线、用电缆或不用电缆(无线)来完成的。
根据待搭接的组件 (PCB) 和环境条件,INGUN 提供了不同的测试探针:
国际标准 GKS(英寸)
提供了两种不同的规格:标准工作行程 (4.3 mm) 和长工作行程 (9.3 mm) 适用于将 ICT 和 FCT 组合的二级测试治具。
短/坚固无线针套可以通过转接 PCB 无线连接 GKS。
短/坚固型 GKS 的特点是具有坚固和紧凑型设计。
INGUN E-TYPE® 测试探针较之于标准 GKS 具有较高的预应力。这个起初较高的弹力保证了在负载时也有安全连接(此弹力等于类似标准探针在工作行程中的弹力)
当出现接触问题的时候,旋转测试探针是一种可靠的选择。行程过程中可通过旋转动作划开待搭接面,并安全穿透绝缘层。
焊珠探针 GKS 用于印刷电路板上的焊珠搭接。针对相应的焊珠,提供不同的针头形状。
使用细间距 GKS 可以对小光栅中的测试点进行搭接。部分可以不组装探针针套。
公制 GKS(公制标准)
作为对传统不带卡环 ICT/FCT 测试探针的补充,公制标准探针的特点在于稳定性和坚固性高,并且都带有明显的卡环。
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