为满足测试要求,提供了射频探针的 各种系列。选择标准包括待搭接的测试点、频率和/或数据速率、安装情况(可用 空间)以及环境条件。
同轴测试点 旋转对称型射频探针用于同轴测试点(如 SMA, U.F, 微型开关)。接触头是基于插接件的设计
位置定向型测试点 为确保位置定向型测试点(如电路板信号接地) 的搭接,要使用防扭转射频探针。
在各频率范围都有为同轴和位置定向型测试点设计的标准射频探针。射频探针既可以将其插入,也可以将其以螺钉栓住在接触式针套中。针对位置定向型测试点,射频探针是相应对齐的。为了补偿 同轴测试点的装配公差,提供了带固定式和自由移动式悬挂的接触 式针套。连接是通过一个 MCX 插接件装置进行的(使用 MMPXTM 的 HFS-865 系列)。
短射频探针是针对以下应用用途设计的,该应用用途因为可用空间 有限而无法使用标准射频探针。
带固定法兰的射频探针,这种设计是为了确保搭接过程中不存在电 缆移动现象。这样,就确保了的信号传输。 带有法兰和自由移动(浮动)接触头的射频探针能对齐测试点,并确保具有良好和可重复的测量质量。对装配公差进行了补偿,因此,在搭接过程中因不同心度而产生的侧向力是可以避免的。
除了典型的射频探针,INGUN 还提供了偶极测量(四极测量)专用的其他测试探针和电力传输专用的 PIM 稳定型射频探针,及更多其他探针:DPS-215, DPS-465, HFS-010, HFS-110, HFS-409, HFS-864。
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