一起来认识IDI ICT测试探针吧！

IDI的探针构造

IDI ICT测试探针内管的顶部分成4片具有弹性的梁式构造，从而使探针针轴和内管永远“亲密”接触, 间距永远为零，这是IDI ICT 测试探针具有极其安定电阻的根本原因。另外具有弹性的内管在每一次压缩，每一次行程都可以拂拭针轴的表面，去掉附着在针轴表面的异物，一方面增加了测试探针的寿命，另一方面保证了测试探针电阻值的稳定。更加重要的一点，针轴永远是直进直出，使测试探针的接触精度大大提高。

结实耐用

IDI ICT系列测试探针非常结实耐用，内管顶部的梁式构造在探针的内管弯曲以前不会变形。另外此种设计可以使弹簧的压力更大，弹簧的长度更长，从而有效避免因为过度被压缩而导致的探针卡壳等故障的发生。

专利材料使探针的寿命更长

IDI工程师开发了先进的热处理技术，使测试探针的钢制针轴更硬，同时保持了钢的韧性。内管采用了特殊材料和电镀G2，使测试探针不易从外管中滑出。

以上可见，IDI ICT测试探针具有更低的电阻，更精确的接触精度，更高的一次测试通过率(first pass yields)，以及更长的寿命。这一切都是因为在对过去的探针技术进行反思之后，IDI创造了具有直进直出构造探针的生产技术。

IDI ICT测试探针更长的探针寿命以及更高的一次测试通过率，定会使您受益非浅。

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