为满足测试要求,提供了高频探针的各种系列。选择标准包括待搭接的测试点、频率和/或数据速率。
同轴测试点 旋转对称型高频探针用于同轴测试点(如 SMA, U.F, 微型开关)。接触头是基于插接件的设计
位置定向型测试点 为确保位置定向型测试点(如电路板信号接地) 的搭接,要使用防扭转高频探针。
标准的高频探针:在各频率范围都有为同轴和位置定向型测试点设计的标准高频探针。高频探针既可以将其插入,也可以将其以螺钉栓住在接触式针套中。针对位置定向型测试点,高频探针是相应对齐的。为了补偿同轴测试点的装配公差,提供了带固定式和自由移动式悬挂的接触式针套。连接是通过一个 MCX 插接件装置进行的(使用 MMPXTM 的 HFS-865 系列)。
短型的高频探针:短高频探针是针对以下应用用途设计的,该应用用途因为可用空间有限而无法使用标准高频探针。
法兰式的高频探针:(HFS-822):带固定法兰的高频探针,这种设计是为了确保搭接过程中不存在电缆移动现象。这样,就确保了信号传输。(HFS-856/819):带有法兰和自由移动(浮动)接触头的高频探针能对齐测试点,并确保具有良好和可重复的测量质量。对装配公差进行了 补偿,因此,在搭接过程中因不同心度而产生的侧向力是可以避免的。
多样性的高频探针:(HFS-864):除了典型的射频探针,INGUN 还提供了偶极测量(四极测量)专用的其他测试探针和电力传输专用的 PIM 稳定型射频探针,及更多其他探针:DPS-215, DPS-465, HFS-010, HFS-110, HFS-409, HFS-864。